國立屏東科技大學 可移轉專利技術摘要
專利名稱
晶片層間強度測試裝置
證書號
I334028
國別
中華民國
專利類型
發明
公告日
2007/6/7
發明人
盧威華
專利技術摘要
一種晶片層間強度測試裝置，其包含一檢測平台、一第一塗測平台及一第二塗測平台。該檢測平台具有互相平行之一第一表面及一第二表面，以供二待測晶片藉由一膠材黏附；該第一塗測平台鄰近該檢測平台之第一表面，並以膠材黏著於該第一表面之待測晶片上；該第二塗測平台鄰近於該檢測平台之第二表面，並以膠材黏著於該第二表面之待測晶片上。待該膠材黏合固定於該二待測晶片之後，拉動該檢測平台，測量並紀錄該二待測晶片之各層間之強度，當該待測晶片並未毀損，則紀錄該待測晶片之強度符合規格。
可應用範圍
(產業利用性)
照片/圖示
附件